納米顆粒粒徑檢測，顆粒的大小稱為粒度，通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長表示。粒徑是顆粒的直徑。然而實際中的顆粒大多是不規(guī)則的，所以，為了更方便的描述顆粒的大小，在實際測算中，將不規(guī)則的顆粒等效為規(guī)則球，并以其直徑作為顆粒的粒度。這就是“等效圓球理論”。
 

　　今天，一起來了解一下納米顆粒粒徑檢測的篩分法、顯微(圖像)法、沉降法、電阻法。
 

　　1.篩分法：篩分法測定粒徑時，按照被測試樣的粒徑大小及分布范圍，將大小不同篩孔的篩子疊放在一起進行篩分，收集各個篩子的篩余量，稱量求得被測試樣以重量計的顆粒粒徑分布。
 

　　2.顯微鏡(圖像)法：顯微鏡圖像法能同時觀察顆粒的形貌及直觀地對顆粒的幾何尺寸進行測量，經(jīng)常被用來作為對其他測量方法的一種校驗或標定。該類儀器由顯微鏡、CCD攝像頭(或數(shù)碼相機)、圖形采集卡、計算機(圖像分析儀)等部分組成。
 

　　3.沉降法：沉降法的原理是基于顆粒處于懸浮體系時，顆粒本身重力(或所受離心力)、所受浮力和黏滯阻力三者平衡，并且黏滯力服從Stokes定律來實施測定的，此時顆粒在懸浮體系中以恒定速度沉降，而且沉降速度與粒度大小的平方成正比。
 

　　4.電阻法：適合對粒度分布比較窄的顆粒進行測量。它的工作原理相對比較簡單：懸浮在電解液中的顆粒在負壓作用下通過一個由紅寶石制成的小孔，兩個鉑電極組成的電阻式傳感器分別插浸在小孔的兩側(cè)，顆粒通過小孔時電極間電阻增大，產(chǎn)生一個電壓脈沖。脈沖的幅值對應于顆粒的體積和相應的粒徑，脈沖的個數(shù)對應于顆粒的個數(shù)。對所有各個測量到的脈沖計數(shù)并確定其幅值，即可得出顆粒的大小，統(tǒng)計出顆粒的分布。因為可以測得顆粒數(shù)量，因此又稱庫爾特計數(shù)法。
 

　　關于納米顆粒粒徑檢測的介紹就到這里了，希望這篇文章能讓你對產(chǎn)品有更多了解！